檢測(cè)報(bào)告圖片模板：
檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
GB/T 1550-2018 非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型檢測(cè)方法
Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
標(biāo)準(zhǔn) 推薦性 即將實(shí)施標(biāo)準(zhǔn)《非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型檢測(cè)方法》由TC203(半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì))歸口上報(bào)，TC203SC2(半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)材料分會(huì))執(zhí)行，主管部門為標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)。
GB/T 1550-2018 主要起草單位
樂山市產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)所 、中國計(jì)量科學(xué)研究院 、廣州市昆德科技有限公司 、瑟米萊伯貿(mào)易(上海)有限公司 、浙江海納半導(dǎo)體有限公司 、新特能源股份有限公司 、江蘇中能硅業(yè)科技發(fā)展有限公司 、峨嵋半導(dǎo)體材料研究所 、洛陽中硅高科技有限公司 、中鍺科技有限公司 、云南冶金云芯硅材股份有限公司 、江西賽維LDK太陽能高科技有限公司 、北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司 。
GB/T 1550-2018 主要起草人
梁洪 、王瑩 、趙曉斌 、高英 、王昕 、王飛堯 、黃黎 、徐紅騫 、邱艷梅 、劉曉霞 、楊旭 、張園園 、劉新* 、徐遠(yuǎn)志 、程小娟 、潘金平 、肖宗杰 。
GB/T 1550-2018 相近標(biāo)準(zhǔn)(計(jì)劃)
20151793-T-469 非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型檢測(cè)方法GB/T 1550-1997 非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型檢測(cè)方法 半導(dǎo)體材料術(shù)語GB/T 14264-2009 半導(dǎo)體材料術(shù)語20062494-T-469 半導(dǎo)體材料術(shù)語20181808-T-469 半導(dǎo)體材料術(shù)語GB/T 14844-2018 半導(dǎo)體材料牌號(hào)表示方法 半導(dǎo)體材料牌號(hào)表示方法20151789-T-469 半導(dǎo)體材料牌號(hào)表示方法
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫為非營利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系我們刪除。
