檢測報告圖片模板：
檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體x射線探測器系統(tǒng)和半導(dǎo)體x射線能譜儀主要特性的測量方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體x射線探測器系統(tǒng)和半導(dǎo)體x射線能譜儀主要性能的測量。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 11685-2003
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體X射線探測器系統(tǒng)和半導(dǎo)體X射線能譜儀的測量方法
英文名稱：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2003-07-07
實施日期：2004-01-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：能源、核技術(shù)>>核儀器與核探測器>>F80核儀器與核探測器綜合
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：能源和熱傳導(dǎo)工程>>核能工程>>27.120.01核能綜合
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 8992-1988 GB/T 11685-1989
起草單位：核工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位：核工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布單位：國防科學(xué)技術(shù)工業(yè)委.
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫為非營利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請聯(lián)系我們刪除。
