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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體單晶晶向X 射線衍射定向和光圖定向的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測定半導(dǎo)體單晶材料大致平行于低指數(shù)原子面的表面取向。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 1555-2009
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體單晶晶向測定方法
英文名稱：Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2009-10-30
實施日期：2010-06-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：冶金>>半金屬與半導(dǎo)體材料>>H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電氣工程>>29.045半導(dǎo)體材料
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 1555-1997
起草單位：峨嵋半導(dǎo)體材料廠
歸口單位：全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會材料分技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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