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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本部分為GB/T19403的一部分，等同采用國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)IEC60748-11-1：1992《半導(dǎo)體器件集成電路第11部分：第1節(jié)：半導(dǎo)體集成電路內(nèi)部目檢》。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 19403.1-2003
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：第1篇：半導(dǎo)體集成電路 內(nèi)部目檢 （不包括混合電路）
英文名稱：Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits (excluding hybrid circuits)
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2003-11-24
實(shí)施日期：2004-08-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部第四研究所
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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