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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了X射線光電子能譜(XPS，X-rayPhotoelectronSpectroscopy或ESCA，ElectronSpectroscopyforChemicalAnalysis)的一般表面分析方法以及相關(guān)的表面化學(xué)分析術(shù)語(yǔ)的含義，適用于X射線光電子能譜儀。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 19500-2004
標(biāo)準(zhǔn)名稱：X-射線光電子能譜分析方法通則
英文名稱：General rules for X-ray photoelectron spectroscopic analysis method
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2004-04-30
實(shí)施日期：2004-12-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>光學(xué)和光學(xué)測(cè)量>>17.180.30光學(xué)測(cè)量?jī)x器
起草單位：北京大學(xué)化學(xué)與分子工程學(xué)院
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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