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GB/T12079-2012X射線管光電性能測試方法

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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了X射線管光電性能測試條件和測試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類型的X射線管。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 12079-2012

標(biāo)準(zhǔn)名稱:X射線管光電性能測試方法

英文名稱:Measurements of the photoelectric properties for X-ray tubes

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2012-11-05

實(shí)施日期:2013-02-15

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>電真空器件>>L39其他電真空器件

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):電子學(xué)>>31.100電子管

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 12079-1989

起草單位:杭州萬東電子有限公司

歸口單位:全國電真空器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 167)

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

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