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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了綜合低溫與低氣壓試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本標(biāo)準(zhǔn)適用于在高山地區(qū)或飛機(jī)儀表盤(pán)上或**上使用的光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 12085.5-1989
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 綜合低溫與低氣壓
英文名稱(chēng)：Optics and optical instruments-Environmental test methods-Combined cold low air pressure
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1989-01-02
實(shí)施日期：1990-08-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>17.180光學(xué)和光學(xué)測(cè)量
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 12085.5-2010代替
起草單位：上海光學(xué)儀器所
歸口單位：全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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