標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本部分規(guī)定了污染試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。本部分中所指的“污染”的含義是腐蝕性化學(xué)物質(zhì)1)(以下稱試劑)同光學(xué)儀器的接觸。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。1) 不包括放射性元素和同位素及危險(xiǎn)性化學(xué)物質(zhì)如2,2-二氧二乙硫醚。本部分不適用于作為正常的生產(chǎn)控制。本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯績(jī)x器,尤其是儀器的表面、涂層或合成材料短時(shí)間內(nèi)暴露在試劑中的抵抗能力。試驗(yàn)通常只用于在使用期有可能遭受污染的儀器選擇材料或元件時(shí)參考。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 12085.13-2010

標(biāo)準(zhǔn)名稱：光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗(yàn)

英文名稱：Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 13:Combined shock bump or free fall and dry heat or cold

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2011-01-14

實(shí)施日期：2011-05-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 12085.13-1989

起草單位：上海理工大學(xué)、寧波永新光學(xué)股份有限公司

歸口單位：全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 103)

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.