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GB/T12085.5-2010光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第5部分:低溫、低氣壓綜合試驗

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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本部分規(guī)定了低溫和低氣壓綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。本部分適用于在高山地區(qū)或飛機(jī)儀表盤上或**上使用的光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。本試驗?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到低溫與低氣壓影響的變化程度,包括測定水的冷凝和凍結(jié)對儀器或零部件的附加影響。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 12085.5-2010

標(biāo)準(zhǔn)名稱:光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第5部分:低溫、低氣壓綜合試驗

英文名稱:Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 5:Combined cold low air pressure

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2011-01-14

實施日期:2011-05-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 12085.5-1989

起草單位:寧波永新光學(xué)股份有限公司、上海理工大學(xué)

歸口單位:全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 103)

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

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