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GB/T15861-2012離子束蝕刻機通用規(guī)范

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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了離子束蝕刻機的術(shù)語、產(chǎn)品分類、技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則以及包裝、運輸、貯存。本 標(biāo)準(zhǔn)適用于物理濺射腐蝕作用的通用離子束蝕刻機。其他專用離子束蝕刻機亦可參照執(zhí)行。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 15861-2012

標(biāo)準(zhǔn)名稱:離子束蝕刻機通用規(guī)范

英文名稱:General specification of ion beam etching system

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2012-11-05

實施日期:2013-02-15

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>電子工業(yè)生產(chǎn)設(shè)備>>L97加工專用設(shè)備

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):31-550

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 15861-1995

起草單位:中國電子科技集團公司第四十八研究所

歸口單位:中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

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