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檢測執(zhí)行標準信息一覽：
標準簡介：本規(guī)范適用于除光電子器件之外的半導體分立器件。
標準號：GB/T 12560-1999
標準名稱：半導體器件 分立器件分規(guī)范
英文名稱：Semiconductor devices --Sectional specification for discrete devices
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1999-08-02
實施日期：2000-03-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術>>半導體分立器件>>L40半導體分立器件綜合
國際標準分類號（ICS）：電子學>>半導體器件>>31.080.01半導體器件綜合
替代以下標準：GB/T 12560-1990
起草單位：南京電子器件研究所
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
發(fā)布單位：國家質量技術監(jiān)督局
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