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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)的帶狀線測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)試各種基片（如塑料、復(fù)合材料、陶瓷、硅酸鹽和其他單晶體材料等）在微波頻率下的復(fù)介電常數(shù)。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 12636-1990
標(biāo)準(zhǔn)名稱：微波介質(zhì)基片復(fù)介電常數(shù)帶狀線 測(cè)試方法
英文名稱：Stripline test method for complex permittivity of microwave dielectric substrates
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1990-01-02
實(shí)施日期：1991-10-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電氣工程>>絕緣流體>>29.040.20絕緣氣體
起草單位：電子科技大學(xué)
歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
發(fā)布單位：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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