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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)為第11部分，等同采用IEC 60748-11:1990《半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范（不包括混合電路）》，代替GB/T 12750-1991。本標(biāo)準(zhǔn)適用于已封裝的半導(dǎo)體集成電路，包括多片集成電路，但不包括混合電路。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 12750-2006
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路)
英文名稱：Semiconductor devices―Integrated circuits―Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2006-08-23
實(shí)施日期：2007-02-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 12750-1991
起草單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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