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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路電參數(shù)測(cè)試方法的基本原理。本標(biāo)準(zhǔn)適用于器件電參數(shù)的測(cè)試。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 12843-1991
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體集成電路 微處理器及外圍接口電路電參數(shù)測(cè)試方法的基本原理
英文名稱：General principle of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits parameters for semiconductor integrated circuits
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1991-04-28
實(shí)施日期：1991-01-02
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L55微電路綜合
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：作廢;
起草單位：北京機(jī)械自動(dòng)化所
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局
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