檢測(cè)報(bào)告圖片模板:
檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:
標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅單晶切割片和研磨石的產(chǎn)品分類、術(shù)語、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于由直接、懸浮區(qū)熔和中子嬗變摻雜硅單晶經(jīng)切割、雙面研磨制備的圓形硅片。產(chǎn)品主要用于制作晶體管、整流器件等半導(dǎo)體器件,或進(jìn)一步加工成拋光片。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 12965-2005
標(biāo)準(zhǔn)名稱:硅單晶切割片和研磨片
英文名稱:Monocrystalline silicon as cut slices and lapped slices
標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):作廢
發(fā)布日期:2005-09-19
實(shí)施日期:2006-04-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):冶金>>半金屬與半導(dǎo)體材料>>H82元素半導(dǎo)體材料
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):電氣工程>>29.045半導(dǎo)體材料
替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 12965-1996;被GB/T 12965-2018代替
起草單位:北京有色金屬研究總院
歸口單位:中國有色金屬工業(yè)協(xié)會(huì)
發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
免責(zé)聲明:(更多標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)先聯(lián)系客服查詢!)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫為非營利性質(zhì),僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用,使用標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò),不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性,如因使用文件造成損失,本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò),本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問題,如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán),請(qǐng)聯(lián)系我們刪除。