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標準簡介：本標準規(guī)定了電子測量儀器(以下簡稱儀器)新產品在設計時應進行的設計余量與模擬誤用試驗。本標準適用于所有環(huán)境組別的電子測量儀器。
標準號：GB/T 13166-2018
標準名稱：電子測量儀器設計余量與模擬誤用試驗
英文名稱：Design margin and abuse tests for electronic measuring instrument
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
標準狀態(tài)：現行
發(fā)布日期：2018-06-07
實施日期：2019-01-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術>>電子測量與儀器>>L85電子測量與儀器綜合
國際標準分類號（ICS）：計量學和測量、物理現象>>17.220電學、磁學、電和磁的測量
替代以下標準：替代GB/T 13166-1991
起草單位：工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標準化研究院、蘇州市質量技術監(jiān)督綜合檢驗檢測中心、中國電子科技集團公司第41研究所
歸口單位：全國電子測量儀器標準化技術委員會(SAC/TC 153)
發(fā)布單位：國家市場監(jiān)督管理總局.
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