檢測報(bào)告圖片模板：
檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)參考了IEC 60333：1993《核儀器 半導(dǎo)體帶電粒子探測器 測試程序》。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 13178-1991《金硅面壘型探測器》。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了部分耗盡金硅面壘型探測器（簡稱探測器）的產(chǎn)品分類、技術(shù)要求、測試方法、檢驗(yàn)規(guī)則等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于部分耗盡金硅面壘型探測器（不包括位置靈敏探測器）。鋰漂移金硅面壘型探測器也可參照執(zhí)行。本標(biāo)準(zhǔn)保留GB/T 13178-1991的大部分內(nèi)容，對(duì)其的主要修改如下：——增加前言；——引用新的規(guī)范性文件；——產(chǎn)品的外形及結(jié)構(gòu)尺寸僅保留A型，刪去原標(biāo)準(zhǔn)的B型和C型；——部分耗盡金硅面壘型探測器的分類僅保留較小耗盡層深度為300μm一類，而主要性能增加“允許較大噪聲”。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 13178-2008
標(biāo)準(zhǔn)名稱：金硅面壘型探測器
英文名稱：Partially depleted gold silicon surface barrier detectors
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2008-07-02
實(shí)施日期：2009-04-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：能源、核技術(shù)>>核儀器與核探測器>>F88核探測器
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：能源和熱傳導(dǎo)工程>>27.120核能工程
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 13178-1991
起草單位：中核（北京）核儀器廠
歸口單位：全國核儀器儀表標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫為非營利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請聯(lián)系我們刪除。
