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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低溫下(300K~20K),波長在紫外-近紅外的晶體透射率的試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于晶體透射率的測試。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 16864-1997
標(biāo)準(zhǔn)名稱：低溫下晶體透射率的試驗(yàn)方法
英文名稱：Method for testing cryogenic transmissivity of crystals
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1997-06-16
實(shí)施日期：1997-12-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：儀器、儀表>>儀器、儀表綜合>>N05儀器、儀表用材料和元件
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：計量學(xué)和測量、物理現(xiàn)象>>光學(xué)和光學(xué)測量>>17.180.01光學(xué)和光學(xué)測量綜合
起草單位：中國科學(xué)院物理研究所
歸口單位：中國科學(xué)院
發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局
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