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GB/T17362-2008黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法

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標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 17362-1998《黃金飾品的掃描電鏡X 射線能譜分析方法》和GB/T 17723-1999《黃金制品鍍層成分的X 射線能譜測(cè)量方法》兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用配置在掃描電鏡上的X射線能譜儀對(duì)黃金制品化學(xué)成分進(jìn)行無(wú)損定量分析的方法和技術(shù)要求。本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T 17362-1998和GB/T 17723-1999兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)相比主要修改如下:———將適用范圍進(jìn)行了合并,使其能分別適用于不同含金量的K 金制成的黃金制品和表面有含金鍍層的鍍金制品的鍍層成分的測(cè)定這兩種情況;———將原來(lái)兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)章節(jié),刪去重復(fù)的部分,對(duì)不同的部分進(jìn)行整理加工形成新的文本;———?jiǎng)h去了GB/T 17723中“術(shù)語(yǔ)”這一節(jié);———原標(biāo)準(zhǔn)中“飾品”一律改為“制品”;———本標(biāo)準(zhǔn)不再規(guī)定選用的校正程序,操作人員可根據(jù)實(shí)際分析的試樣,自行選擇采用;———著重強(qiáng)調(diào)測(cè)定鍍層制品時(shí),工作電壓的選擇,這是對(duì)鍍層成分能否測(cè)準(zhǔn)的關(guān)鍵所在。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17362-2008

標(biāo)準(zhǔn)名稱:黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法

英文名稱:Analysis method for gold products with X-ray EDS in SEM

標(biāo)準(zhǔn)類型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2008-09-18

實(shí)施日期:2009-05-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):儀器、儀表>>物質(zhì)成分分析儀器與環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器>>N53電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.99有關(guān)化學(xué)分析方

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 17362-1998;GB/T 17723-1999

起草單位:北京有色金屬研究總院、核工業(yè)總公司北京地質(zhì)研究院,北京鋼鐵研究總院

歸口單位:全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位:國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

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