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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用電子探針測(cè)定碳鋼和低合金鋼（鐵質(zhì)量分?jǐn)?shù)大于95%）中硅、錳含量的校準(zhǔn)曲線法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子探針波譜儀，不適用于能譜儀。帶波譜儀的掃描電鏡可以參照使用。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17360-2020
標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析 鋼中低含量硅、錳的電子探針定量分析方法
英文名稱：Microbeam analysis—Method of quantitative determination for low contents of silicon and manganese in steels using electron probe microanalyzer
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2020-06-02
實(shí)施日期：2021-04-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：71：040.99
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 17360-2008
起草單位：中國科學(xué)院金屬研究所
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)
發(fā)布單位：國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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