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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了與電子探針和掃描電鏡聯(lián)用的Ｘ射線能譜儀的定量分析方法的技術(shù)要求和規(guī)范。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子探針和掃描電鏡Ｘ射線能譜儀對(duì)塊狀試樣的定量分析。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17359-1998
標(biāo)準(zhǔn)名稱：電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
英文名稱：General specification of X-ray EDS quantitative analysis for EPMA and SEM
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1998-05-08
實(shí)施日期：1998-12-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 17359-2012代替
起草單位：中國(guó)有色金屬工業(yè)總公司北京有色金屬研究總院、地礦部地質(zhì)科學(xué)研究院礦床地質(zhì)研究所、核工業(yè)部北京地質(zhì)研究院
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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