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GB/T17473.4-2008微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法附著力測(cè)定

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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)GB/T17473—1998《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法》(所有部分)的整合修訂,分為7個(gè)部分,本部分為GB/T17473—2008的第4部分。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微電子技術(shù)用貴金屬漿料中附著力的測(cè)定方法。本部分適用于微電子技術(shù)用貴金屬漿料附著力的測(cè)定。本部分代替GB/T17473.4—1998《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法 附著力測(cè)定》。本部分與GB/T17473.4—1998相比,主要有如下變動(dòng):———將原標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為:微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法 附著力測(cè)定;———將原標(biāo)準(zhǔn)中去除“非貴金屬電子漿料附著力測(cè)定也可參照本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行”內(nèi)容;———增加了SnAg3.0Cu0.5焊料用于無鉛導(dǎo)體焊接;———用隧道燒結(jié)爐取代原標(biāo)準(zhǔn)中的帶式爐;———增加了無鉛焊料的溫度控制。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17473.4-2008

標(biāo)準(zhǔn)名稱:微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法 附著力測(cè)定

英文名稱:Test methods of precious metals pastes used for microelectronics - Determination of adhesion

標(biāo)準(zhǔn)類型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2008-03-31

實(shí)施日期:2008-09-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):冶金>>有色金屬及其合金產(chǎn)品>>H68貴金屬及其合金

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):冶金>>有色金屬>>77.120.99其他有色金屬及其合金

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 17473.4-1998

起草單位:貴研鉑業(yè)股份有限公司

歸口單位:全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位:國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

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