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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微電子技術(shù)用貴金屬漿料中方阻的測定方法。本部分適用于微電子技術(shù)用貴金屬漿料方阻的測定。 本標(biāo)準(zhǔn)是對ＧＢ／Ｔ１７４７３—１９９８《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法》（所有部分）的整合修訂，分為７個部分.本部分為ＧＢ／Ｔ１７４７３—２００８的第３部分。本部分代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．３—１９９８《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 方阻測定》。本部分與ＧＢ／Ｔ１７４７３．３—１９９８相比，主要有如下變動：———將原標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 方阻測定；———增加低溫固化型漿料方阻的測定方法；———原標(biāo)準(zhǔn)的原理中，“將漿料用絲網(wǎng)印刷在陶瓷基片，經(jīng)過燒結(jié)后，膜層在一定溫度及其厚度、寬度不變的情況下……”修改為：“將漿料用絲網(wǎng)印刷在陶瓷基片或有機(jī)樹脂基片上，經(jīng)過燒結(jié)或固化后，膜層在一定溫度及厚度、寬度不變的情況下”；———測厚儀修改為：光切顯微測厚儀用于燒結(jié)型漿料：范圍為０ｍｍ～５ ｍｍ，精度為０．００１ ｍｍ。千分尺用于固化型漿料：范圍為０ｍｍ～５ｍｍ，精度為０．００１ｍｍ。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17473.3-2008
標(biāo)準(zhǔn)名稱：微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 方阻測定
英文名稱：Test methods of precious metals pastes used for microelectronics Determination of sheet resistance
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2008-03-31
實(shí)施日期：2008-09-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：冶金>>有色金屬及其合金產(chǎn)品>>H68貴金屬及其合金
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：冶金>>有色金屬>>77.120.99其他有色金屬及其合金
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 17473.3-1998
起草單位：貴研鉑業(yè)股份有限公司
歸口單位：全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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