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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：內(nèi)容詳見本標(biāo)準(zhǔn)。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17572-1998
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 第四篇 CMOS數(shù)字集成電路4000B和4000UB系列族規(guī)范
英文名稱：Semiconductor devices--Integrated circuits Part 2:Digital integrated circuits Section four--Family specification for complementary MOS digital integrated circuits,series 4 000B and 4 000UB
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1998-01-01
實(shí)施日期：1999-06-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
起草單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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