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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：內(nèi)容詳見本標(biāo)準(zhǔn)。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17573-1998
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第1部分:總則
英文名稱：Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits Part 1:General
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1998-01-01
實(shí)施日期：1999-06-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>半導(dǎo)體分立器件>>L40半導(dǎo)體分立器件綜合
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電子學(xué)>>半導(dǎo)體器件>>31.080.01半導(dǎo)體器件綜合
起草單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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