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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本規(guī)范的目的是給出低壓集成電路不同分組的接口規(guī)范，包括電源電壓、容差和較壞情況下的輸入、輸出電壓極限值。同時(shí)給出每類標(biāo)稱電壓的兩種接口規(guī)范：正常范圍和寬范圍。正常范圍是依據(jù)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)制定的，典型容差大約是10%。寬范圍是擴(kuò)展到一個(gè)較寬的范圍，可以使電池繼續(xù)工作的實(shí)際值。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17574.20-2006
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2-20部分：數(shù)字集成電路 低壓集成電路族規(guī)范
英文名稱：Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20：Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2006-12-05
實(shí)施日期：2007-05-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
起草單位：中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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