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GB/T17626.2-2018電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)

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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡介:GB/T 17626的本部分規(guī)定了電氣和電子設(shè)備遭受直接來自操作者及其操作者對鄰近物體的靜電放電時的抗擾度要求和試驗(yàn)方法,還規(guī)定了不同環(huán)境和安裝條件下試驗(yàn)等級的范圍和試驗(yàn)程序。本部分的目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn),以評估電氣和電子設(shè)備遭受靜電放電時的性能。此外,它還包括從人體到靠近關(guān)鍵設(shè)備的物體之間可能發(fā)生的靜電放電。本部分的規(guī)定包括:——放電電流的典型波形;——試驗(yàn)等級的范圍;——試驗(yàn)設(shè)備;——試驗(yàn)配置; ——試驗(yàn)程序; ——校準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 17626.2-2018

標(biāo)準(zhǔn)名稱:電磁兼容 試驗(yàn)和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)

英文名稱:Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Electrostatic discharge immunity test

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2018-06-07

實(shí)施日期:2019-01-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L06電磁兼容

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):電信、音頻和視頻技術(shù)>>電磁兼容性(EMC)>>33.100.20抗擾性

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 17626.2-2006

起草單位:上海工業(yè)自動化儀表研究院有限公司、上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院、上海電器科學(xué)研究院、北京東方計(jì)量測試研究所、陸*工程大學(xué)、上海儀器儀表自控系統(tǒng)檢驗(yàn)測試所有限公司

歸口單位:全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 246)

發(fā)布單位:國家市場監(jiān)督管理總局.

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