檢測報告圖片模板:
檢測執(zhí)行標準信息一覽:
標準簡介:本標準給出了下列各類或各分類器件的標準:——組合和時序數(shù)字電路;——存儲器集成電路;——微處理器集成電路;——電荷轉(zhuǎn)移器件。
標準號:GB/T 17574-1998
標準名稱:半導體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路
英文名稱:Semiconductor devices --Integrated circuits Part 2:Digital integrated circuits
標準類型:國家標準
標準性質(zhì):推薦性
標準狀態(tài):現(xiàn)行
發(fā)布日期:1998-01-01
實施日期:1999-06-01
中國標準分類號(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L55微電路綜合
國際標準分類號(ICS):電子學>>31.200集成電路、微電子學
替代以下標準:SJ/Z 9015.2-1987
起草單位:電子工業(yè)部標準化研究所
歸口單位:全國半導體器件標準化技術(shù)委員會
發(fā)布單位:國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
標準文檔查詢及下載
免責聲明:(更多標準請先聯(lián)系客服查詢!)
1.本站標準庫為非營利性質(zhì),僅供各行人士相互交流、學習使用,使用標準請以正式出版的版本為準。
2.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡(luò),不保證文件的準確性和完整性,如因使用文件造成損失,本站不承擔任何責任。
3.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡(luò),本站不承擔任何技術(shù)及版權(quán)問題,如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán),請聯(lián)系我們刪除。