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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了符合GB/T14916-2006所定義識(shí)別卡特性的一些測(cè)試方法，本部分定義了帶觸點(diǎn)的集成電路卡的測(cè)試方法。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17554.3-2006
標(biāo)準(zhǔn)名稱：識(shí)別卡 測(cè)試方法 第3部分:帶觸點(diǎn)的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備
英文名稱：Identification cards - Test methods Part 3: Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface devices
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2006-03-14
實(shí)施日期：2006-07-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>計(jì)算機(jī)>>L64數(shù)據(jù)媒體
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：信息技術(shù)、辦公機(jī)械設(shè)備>>信息技術(shù)應(yīng)用>>35.240.15識(shí)別卡和有關(guān)裝置
起草單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位：全國(guó)信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
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