檢測(cè)報(bào)告圖片模板：
檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)是EMC(電磁兼容）基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)。它考察了電氣和(或)電子設(shè)備（裝置和系統(tǒng)）在其電磁環(huán)境中的抗擾度試驗(yàn)。在與電力、控制和通訊網(wǎng)絡(luò)相連設(shè)備的抗擾度試驗(yàn)中，對(duì)傳導(dǎo)及輻射現(xiàn)象都作了考慮。本標(biāo)準(zhǔn)的目的是：??為有關(guān)專(zhuān)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)或其他團(tuán)體、電氣和電子設(shè)備的用戶(hù)和制造廠商提供有關(guān)EMC抗擾度規(guī)范和試驗(yàn)的通用的、全面的參考資料；??就這些試驗(yàn)的選擇和應(yīng)用提供一般性指導(dǎo)。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17626.1-1998
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論
英文名稱(chēng)：Electromagnetic compatibility --Testing and measurement techniques --Overview of immunity tests
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1998-01-02
實(shí)施日期：1999-01-02
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L06電磁兼容
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：電信、音頻和視頻技術(shù)>>33.100電磁兼容性(EMC)
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 13926.1-1992;GBT17626.1-2006替代
起草單位：機(jī)械工業(yè)部上海工業(yè)自動(dòng)化儀表研究所
歸口單位：全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)先聯(lián)系客服查詢(xún)！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)為非營(yíng)利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問(wèn)題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系我們刪除。
