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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本部分為第10部分，等同采用IEC60748-2-10:1994(QC790107)《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第10篇：集成電路動(dòng)態(tài)讀/寫存儲(chǔ)器空白詳細(xì)規(guī)范》（英文版）。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17574.10-2003
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2-10部分：數(shù)字集成電路 集成電路動(dòng)態(tài)讀/寫存儲(chǔ)器 空白詳細(xì)規(guī)范
英文名稱：Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 2-10:Digital integrated circuits—Blank detail specification of integrated circuit dynamic read/write memories
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2003-01-01
實(shí)施日期：2004-08-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.220電子電信設(shè)備用機(jī)電零部件
起草單位：中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所（CESI）
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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