標(biāo)準(zhǔn)簡介：GB/T17626的本部分涉及電氣和電子設(shè)備對重復(fù)性電快速瞬變的抗擾度要求和試驗方法。此外,還規(guī)定了試驗等級的范圍,確定了試驗程序。本部分的目的是為評估電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號、控制和接地端口在受到電快速瞬變(脈沖群)干擾時的性能確定一個共同的能再現(xiàn)的評定依據(jù)。本部分規(guī)定的試驗方法描述了一種評估設(shè)備或系統(tǒng)對已定義現(xiàn)象抗擾度的一致性方法。注:本部分是全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會的電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)的一部分,專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會負(fù)責(zé)確定本抗擾度試驗標(biāo)準(zhǔn)部分是否適用。如果適用,專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會負(fù)責(zé)確定適當(dāng)?shù)脑囼灥燃壓托阅芘袚?jù)。負(fù)責(zé)本部分的標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會愿意與專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會在其產(chǎn)品特殊的抗擾度試驗值評估方面合作。本部分規(guī)定了下列幾項:---試驗電壓波形;---試驗等級的范圍;---試驗設(shè)備;---試驗設(shè)備的校驗程序;---試驗配置;---試驗程序。本部分給出了在實驗室試驗和安裝后試驗的技術(shù)規(guī)范。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17626.4-2008

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

英文名稱：Electromagnetic compatibility - Testing and measurement techniques - Electrical fast transient/burst immunity test

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：2008-05-20

實施日期：2009-01-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L06電磁兼容

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電信、音頻和視頻技術(shù)>>電磁兼容性(EMC)>>33.100.20抗擾性

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 17626.4-1998;被GB/T 17626.4-2018代替

起草單位：上海工業(yè)自動化儀表研究所、國網(wǎng)武漢高壓研究院

歸口單位：全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.