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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了紅外探測(cè)器的參數(shù)測(cè)試方法及其檢測(cè)設(shè)備和儀器的要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于各類(lèi)單紅外探測(cè)器的參數(shù)測(cè)試，也適用于多紅外探測(cè)器相應(yīng)的參數(shù)測(cè)試。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 13584-1992
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：紅外探測(cè)器參數(shù)測(cè)試方法
英文名稱(chēng)：Measuring methods for parameters of infrared detectors
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1992-07-15
實(shí)施日期：1993-05-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L52紅外器件
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.020電子元件綜合
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代QJ 1924-1990;被GB/T 13584-2011代替
起草單位：機(jī)電部第十一研究所
歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
發(fā)布單位：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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