檢測(cè)報(bào)告圖片模板：
檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了紅外探測(cè)器(以下簡(jiǎn)稱探測(cè)器)的參數(shù)測(cè)試方法及其檢測(cè)設(shè)備和儀器的要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于各類單元紅外探測(cè)器的參數(shù)測(cè)試,也適用于多元紅外探測(cè)器相應(yīng)的參數(shù)測(cè)試。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 13584-2011
標(biāo)準(zhǔn)名稱：紅外探測(cè)器參數(shù)測(cè)試方法
英文名稱：Measuring methods for paramaters of infrared detectors
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2011-12-30
實(shí)施日期：2012-07-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L52紅外器件
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 13584-1992
起草單位：中國(guó)科技集團(tuán)公司第十一研究所
歸口單位：中國(guó)科技集團(tuán)公司第十一研究所
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)為非營(yíng)利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問(wèn)題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系我們刪除。
