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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了各類金制品的金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法的技術(shù)要求，本標(biāo)準(zhǔn)也適用于電子探針儀測量金覆蓋層厚度，適用的厚度測量范圍為0.2~10um。其他金屬材料的覆蓋層厚度的測量也可參照?qǐng)?zhí)行。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17722-1999
標(biāo)準(zhǔn)名稱：金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法
英文名稱：Gold-plated thickness measurement by SEM
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1999-04-01
實(shí)施日期：1999-01-02
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
起草單位：中國科學(xué)院北京科儀研制中心
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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