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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路模擬鎖相環(huán)電參數(shù)測試方法的基本原理。模擬鎖相環(huán)與數(shù)字電路相同的靜態(tài)和動態(tài)參數(shù)測試可參照GB3439《半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理》。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 14031-1992
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體集成電路模擬鎖相環(huán)測試方法的基本原理
英文名稱：General principles of measruing methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1992-01-02
實施日期：1993-08-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L55微電路綜合
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
起草單位：上海件五廠
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局
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