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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了雙極、MOS、結(jié)型場效應(yīng)半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)（以下稱為器件）參數(shù)測試方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)，也適用于多路轉(zhuǎn)換器參數(shù)的測試。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 14028-2018
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體集成電路 模擬開關(guān)測試方法
英文名稱：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2018-03-15
實(shí)施日期：2018-08-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 14028-1992
起草單位：中國航天科技集團(tuán)公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微電子(北京)股份有限公司、西北工業(yè)大學(xué)
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 78)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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