標準簡介：本標準規(guī)定了半導體管特性圖示儀的術語和定義、要求、測試方法、質(zhì)量檢驗規(guī)則、標識、包裝、運輸、貯存等。本標準適用于測試半導體管特性曲線和直流參數(shù)的半導體管特性圖示儀,也適用于具有插入單元或附屬裝置的半導體管特性圖示儀。圖示儀的產(chǎn)品標準應滿足本標準的要求,當圖示儀的產(chǎn)品標準要求超出本標準要求時,應以產(chǎn)品標準為準。

標準號：GB/T 13973-2012

標準名稱：半導體管特性圖示儀通用規(guī)范

英文名稱：General specification test methods for semiconductor device curve tracers

標準類型：國家標準

標準性質(zhì)：推薦性

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2012-12-31

實施日期：2013-06-01

中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術>>電子測量與儀器>>L85電子測量與儀器綜合

國際標準分類號（ICS）：計量學和測量、物理現(xiàn)象>>17.220電學、磁學、電和磁的測量

替代以下標準：替代GB/T 13973-1992;GB/T 13974-1992

起草單位：上海新建儀器設備有限公司

歸口單位：全國電子測量儀器標準化技術委員會(SAC/TC 153)

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.