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標準簡介：本部分等同采用IEC 60747-4-1：2000《半導體器件 分立器件 第4-1部分：微波二極管和晶體管 微波場效應晶體管空白詳細規(guī)范》。本空白詳細規(guī)范是半導體器件的一系列空白詳細規(guī)范之一，具體內容包括：機械說明；簡要說明；質量評定類別；極限值；電特性；標志；訂貨資料；試驗條件和簡要要求等。
標準號：GB/T 21039.1-2007
標準名稱：半導體器件 分立器件 第4-1部分：微波二極管和晶體管 微波場效應晶體管空白詳細規(guī)范
英文名稱：Semiconductor devices—Discrete devices—Part 4-1:microwave diodes and transistors—Microwave field effect transistors—Blank detail specification
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2007-06-29
實施日期：2007-11-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術>>半導體分立器件>>L41半導體二極管
國際標準分類號（ICS）：電子學>>半導體器件>>31.080.30三極管
起草單位：中國電子技術標準化研究所
歸口單位：全國半導體分立器件標準化分技術委員會
發(fā)布單位：國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.
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