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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析的術(shù)語(yǔ)、分析方法和程序、分析報(bào)告內(nèi)容等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于鋼鐵材料內(nèi)部及表面缺陷的電子束顯微分析。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 21638-2008
標(biāo)準(zhǔn)名稱：鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則
英文名稱：Guide for electron beam microananlysis of defect in steel materials
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2008-04-11
實(shí)施日期：2008-10-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>物質(zhì)成分分析儀器與環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器>>N53電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.99有關(guān)化學(xué)分析方
起草單位：上海寶鋼股份公司技術(shù)中心、武漢鋼鐵集團(tuán)公司技術(shù)中心、北京鋼鐵研究總院、上海材料研究所
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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