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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了厚膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片的要求、測試方法、檢驗規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運輸和貯存。本 標(biāo)準(zhǔn)適用于厚膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片的生產(chǎn)和采購,采用厚膜工藝的片式元件用氧化鋁陶瓷基片也可參照使用。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 14619-2013
標(biāo)準(zhǔn)名稱：厚膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片
英文名稱：Alumina ceramic substrates for thick film integrated circuits
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2013-11-12
實施日期：2014-04-15
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子設(shè)備專用材料、零件、結(jié)構(gòu)件>>L90電子技術(shù)專用材料
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：31.030
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 14619-1993
起草單位：中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
歸口單位：中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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