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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片的結(jié)構(gòu)尺寸、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存。本標(biāo)準(zhǔn)適用于薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 14620-1993
標(biāo)準(zhǔn)名稱：薄膜集成電路用氧化鋁陶瓷基片
英文名稱：Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1993-09-03
實(shí)施日期：1993-01-02
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：>>>>L32
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 14620-2013代替
起草單位：國營七九九廠
歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局
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