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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了分析電鏡（AEM/EDS即透射電子顯微鏡或裝有掃描附件的透射電鏡——X射線能譜儀，測(cè)量比例因子（K A-B）所用納米薄標(biāo)樣的技術(shù)要求、檢測(cè)條件和檢測(cè)方法。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 18735-2002
標(biāo)準(zhǔn)名稱：分析電鏡（AEM/EDS）納米薄標(biāo)樣 通用規(guī)范
英文名稱：General specification of nanometer thin STANDARD specimen for analytical transmission electron microscopy (AEM/EDS)
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：2002-05-22
實(shí)施日期：2002-12-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 18735-2014代替
起草單位：武漢理工大學(xué)、中科院廣州地球化學(xué)研究所
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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