檢測報告圖片模板:
檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:
標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)敘述金屬鈣中硅的測定原理并規(guī)定了分析步驟,結(jié)果計算及方法精密度。
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 10267.2-1988
標(biāo)準(zhǔn)名稱:金屬鈣分析方法 微量硅的光度法測定
英文名稱:Method for analysis of calcium metal-The determination of micro-amounts of silicon by photometric method
標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
發(fā)布日期:1988-01-02
實施日期:1989-10-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):冶金>>金屬化學(xué)分析方法>>H12輕金屬及其合金分析方法
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):冶金>>有色金屬>>77.120.70鎘、鈷及其合金
起草單位:國營812廠
歸口單位:全國核能標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位:中國核工業(yè)集團公司
免責(zé)聲明:(更多標(biāo)準(zhǔn)請先聯(lián)系客服查詢!)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫為非營利性質(zhì),僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用,使用標(biāo)準(zhǔn)請以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò),不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性,如因使用文件造成損失,本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò),本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問題,如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán),請聯(lián)系我們刪除。