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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：IEC 電子器件質(zhì)量評(píng)定體系遵循IEC章程并在IEC授權(quán)下工作。該體系地目的試確定質(zhì)量評(píng)定程序，尾這種方式使一個(gè)參加國按有關(guān)規(guī)范要求放行地電子器件無需進(jìn)一步試驗(yàn)而為其他所有參加國同樣接受。本空白詳細(xì)規(guī)范使半導(dǎo)體器件地一系列空白詳細(xì)規(guī)范之一，并應(yīng)與下列IEC標(biāo)準(zhǔn)一起使用。IEC 60747-10/QC 700000:1991 半導(dǎo)體器件 第十部分 分立器件和集成電路總規(guī)范。IEC 60747-12/QC 720100:1991 半導(dǎo)體器件 第12部分 光電子器件分規(guī)范
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 18904.4-2002
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 第12-4部分: 光電子器件 纖維光學(xué)系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的Pin-FET模塊空白詳細(xì)規(guī)范
英文名稱：Semiconductor devices-Part 12-4:Optoelectronic devices-Blank detail specification for pin-FETmoules with/without pigtail for fiber optic systems or sub-systems
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2002-12-04
實(shí)施日期：2003-05-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L54半導(dǎo)體光敏器件
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備
起草單位：中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所（CESI）
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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