檢測報告圖片模板：
檢測執(zhí)行標準信息一覽：
標準簡介：本空白詳細規(guī)范規(guī)定了制定“變?nèi)荻O管”詳細規(guī)范的基本原則，制定該范圍內(nèi)的所有詳細規(guī)范應與本空白詳細規(guī)范一致。本空白詳細規(guī)范是與GB4589.1－89《半導體器件 分立器件和集成電路總規(guī)范》和GB12560－90《半導體器件 分立器件分規(guī)范》有關的一系列空白規(guī)范中的一個。
標準號：GB/T 15178-1994
標準名稱：變?nèi)荻O管空白詳細規(guī)范
英文名稱：Blank detail specification for variable capacitance diodes
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1994-08-20
實施日期：1995-04-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術>>半導體分立器件>>L41半導體二極管
國際標準分類號（ICS）：電子學>>半導體器件>>31.080.10二極管
替代以下標準：SJ 2606-1985
起草單位：電子工業(yè)部標準化研究所
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
發(fā)布單位：國家技術監(jiān)督局
標準文檔查詢及下載
免責聲明：(更多標準請先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標準庫為非營利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學習使用，使用標準請以正式出版的版本為準。
2.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡，不保證文件的準確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔任何責任。
3.全部標準資料均來源于網(wǎng)絡，本站不承擔任何技術及版權問題，如有相關內(nèi)容侵權，請聯(lián)系我們刪除。
