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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 2423.27-1981
標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法
英文名稱：Electric and electronic products; Basic environmental test regulations for electricians; Test Z/AMD: The successive integrated low temperature/low atmospheric pressure/damp-heat method
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1981-08-10
實(shí)施日期：1982-04-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：試驗(yàn)>>19.040環(huán)境試驗(yàn)
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 2423.27-2005代替
起草單位：環(huán)標(biāo)委第三工作組
歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：中國電器工業(yè)協(xié)會
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