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GB/T2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗M:低氣壓

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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本部分適用于室溫條件下的低氣壓試驗。本試驗的目的是用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應(yīng)性。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 2423.21-2008

標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓

英文名稱:Environmental testing - Part 2: Test methods - Test M: Low air pressure

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2008-12-30

實施日期:2009-10-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):試驗>>19.040環(huán)境試驗

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 2423.21-1991

起草單位:廣州電器科學(xué)研究院、廣州威凱檢測技術(shù)研究所、重慶銀河試驗儀器有限公司

歸口單位:全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

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