標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱兩類試驗(yàn)樣品。對于非散熱試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)Aa和Ab不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)僅限于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品(包括件、設(shè)備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下貯存和(或)使用的適應(yīng)性。這一低溫試驗(yàn)不能用來評價試驗(yàn)樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這種情況下，應(yīng)當(dāng)采用試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法。低溫試驗(yàn)方法分為以下三類:非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):——試驗(yàn)Aa:溫度突變——試驗(yàn)Ab:溫度漸變散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):——試驗(yàn)Ad:溫度漸變本試驗(yàn)方法通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)持續(xù)時間是從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時開始計(jì)算的。在特殊情況下，如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定，則試驗(yàn)持續(xù)時間從試驗(yàn)箱(室)達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時開始計(jì)算。相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定:a)試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度變化速率;b)試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱(室)的時間;c)試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)條件下暴露試驗(yàn)開始的時間;d)試驗(yàn)樣品通電或加負(fù)載的時間。在這些條件下，相關(guān)規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T2424.1-1989導(dǎo)則選定以上4個參數(shù)(以上條件下的修訂正在考慮之中)。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 2423.1-2001

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

英文名稱：Environmental testing for electric and electronic and electronic products--Part 2:Test methods--Tests A:Cold

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：2001-07-12

實(shí)施日期：2001-12-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：試驗(yàn)>>19.040環(huán)境試驗(yàn)

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 2423.1-1989;被GB/T 2423.1-2008代替

起草單位：廣州電器科學(xué)研究所

歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.