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GB5080.5-1985設(shè)備可靠性試驗(yàn)成功率的驗(yàn)證試驗(yàn)方案

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標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本標(biāo)準(zhǔn)通常在用成功率表示產(chǎn)品可靠性要求的情況下使用。所規(guī)定的成功率是一個(gè)產(chǎn)品將完成所要求的功能的概率或是產(chǎn)品在規(guī)定的條件下試驗(yàn)成功的概率。觀測(cè)的成功率可以定義為在試驗(yàn)結(jié)束時(shí)未失效的產(chǎn)品數(shù)對(duì)試驗(yàn)產(chǎn)品總數(shù)的比值或成功的試驗(yàn)次數(shù)對(duì)試驗(yàn)總次數(shù)的比值。這些試驗(yàn)方案是基于假設(shè)每次試驗(yàn)在統(tǒng)計(jì)意義上來(lái)說(shuō)是獨(dú)立的。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB 5080.5-1985

標(biāo)準(zhǔn)名稱:設(shè)備可靠性試驗(yàn)成功率的驗(yàn)證試驗(yàn)方案

英文名稱:Equipment reliability testing--Compliance test plans for success ratio

標(biāo)準(zhǔn)類型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):強(qiáng)制性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:1985-04-17

實(shí)施日期:1986-01-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>電子元器件與信息技術(shù)綜合>>L05可靠性和可維護(hù)性

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):電氣工程>>29.020電氣工程綜合

起草單位:電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所和航天工業(yè)部708所

歸口單位:全國(guó)電工電子產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)技委會(huì)

發(fā)布單位:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局

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